피앤아이비

특허권자

한국기계연구원

출원일자

2006.03.06

기술명칭

비전장치를 이용한 직각도 측정방법 및 시스템과 이에 이용되는 광학 마스터

기술분야

기계

기술개발상태

TRL 4단계

지재권정보

(등록특허)10-0736005

특허명세서

1020060020912.pdf

기술거래유형

권리양도

희망거래금액

무상이전

응용분유

머신비전- 공작기계, 측정기, 조립기 등 2축 이상의 기계 축 직각도 평가 - 표준 검사기구

기술개요

본 기술은 비전장치 및 그 비전장치에 채택되는 광학 마스터를 이용하여 더욱 정밀하게 객체의 직각도를 측정하는 방법 및 시스템을 제공함.
비전장치의 특성을 이용하여 광학 마스터의 패턴으로부터 얻은 좌표점들을 대칭 또는 회전시키면서, 비전장치의 직교 좌표계와 객체 사이의 기하학적 관계로부터 객체의 직각도 오차를 직각도 측정 방법 및 시스템임.

기술특징

* 고가의 장비없이 신뢰성 있는 객체의 직각도 측정.
* 3개의 점패턴을 갖는 광학 마스터를 비전장치에 채용.
* 점패턴으로부터 얻어진 좌표정보로 부터 객체의 직각도 측정.

사업성

본 기술은, 기계장치와 같은 객체의 직각도를 측정함에 있어서, 레이저 인터페로미터 측정 설비와 같은 고가의 장비가 요구되지 않고, 직각 마스터의 직각도에 의존하는 측정 방법과 달리 보다 정밀하고 신뢰성 있는 객체의 직각도 측정이 가능하다는 효과를 지님. 특히, 본 기술은 3개의 점패턴을 갖는 광학 마스터를 비전장치에 채용하여 그 점패턴들로부터 얻어진 좌표정보를 이용해 객체의 직각도를 측정할 수 있되, 그 점패턴들의 좌표점을 반전 또는 회전시키는 패턴 변환이 가능한 비전장치의 특성으로 인해, 점패턴들 사이의 기하학적 관계가 직각도 측정에 영향을 미치지 않으며, 이는 직각 마스터의 직각도에 의존하는 것에 의해 크게 떨어지던 직각도 측정 정밀도를 크게 향상시켜주는 효과를 제공함.
본 기술은, 직각도 측정의 정밀도를 크게 높인다는 점에서, 특히, 직선운동하는 2축 또는 3축의 기계장치의 운동 정밀도를 향상시키는데 기여할 수 있음. 그 이유는 기계장치의 직선운동시의 행정 오차는 작은 직각도의 오차에 의해서도 굉장히 큰 편차를 나타내기 때문임.